半導體電路板落摔冷熱衝擊

半導體 電路板落摔冷熱衝擊

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目的
1.檢測落下衝擊時的加速度及電阻值

2.衝擊發生時CYCLE自動遞增

3.落下衝擊加速度波型以HALFSIN的檢測方式確認衝擊加速度峰值/歷時及速度峰值均符合標準要求

4.落下衝擊發生時以EVENT DETECT的方式檢測電阻值是否符合標準

5.各CYCLE均紀錄加速度及阻值狀態

6.量測完成後能再載入檢視各CYCLE數值及相關統計資料

 

 

量測功能

1.光感測器觸發後電阻/加速度同步開始擷取指定時間資料,最小為10ms        

1.正/負緣觸發

2.觸發準位

3.觸發延時

2.加速度通道:

1.4CH同步取樣,最高取樣率1MHz/CH,輸入電壓範圍+/-10V

2.感測器靈敏度/單位設定

3.加速度波型以半正弦波方式分析PK/VELOCITY/DURATION   

4.符合JESD22-B111A 衝擊波型判斷方法

3.電阻通道:

1.16CH同步量測紀錄波型,最高取樣率10MHz/CH,輸入範圍依電流源設定如下表

2.初始阻值量測功能

3.電阻測試電流:每一通道可設定個別測試電流

4.阻值EVENT判標準可指定特定數數或由函數代入初始阻值計算產出

5.符合JESD22-B111A EVENT/FAIL判斷方法

4.每次衝擊CYCLE均自動判定並紀錄(加速度/電阻)資料

系統檢測加速度或電阻值有異常情況時可由數位I/O接點通知落下衝擊機台停止量

 

 

分析功能

1.依光感及加速度值判斷累進CYCLE數

2.歷史資料檢視可逐次檢視加速度及電阻波型及顯示每一測試之代表值

3.加速度資料:

1.檢視可搜尋PK及EXPORT資料並計算CPK值     

2.加速度波型可事後重設定濾波頻帶

3.歷次資料及波型檢視均可CSV檔輸出

4.電阻值資籵

1.初始阻值檢視

2.歷史資料可檢視歷次量測阻值最大值及波型

3.歷次資料及波型檢視均可CSV檔輸出

5.可設定EVENT/FAIL 檢測條件

硬體設備

1.PXI機箱:9個SLOT插槽。

2.CPU模組: 2.8 GHz Quad Core Controller, Win 10 64-bit

3.加速度暨光感測器量測通道(4CH): 由光感測器觸發同步量測,每一通道1MHZ取樣,16BIT解析

4.加速度驅動器(ICP): 4CH

5.加速度感測器:依實際量測加速度範圍選取

6.電阻量測模組(每個模組16CH,共1模組):4線式量測.同步取樣,每一CH取樣率均可達到10MHz,14BIT解析

7.電阻驅動電流模組:提供待測電阻驅動電流(4KOhm@1mA,400Ohm@10mA)